Bonn 2010 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 64: Strahlenhärte von Halbleiterdetektoren II

T 64.3: Vortrag

Donnerstag, 18. März 2010, 17:15–17:30, HG ÜR 6

Teststrahlmessungen von n-in-p Streifendetektoren — •Liv Wiik, Michael Köhler, Karl Jakobs, Ulrich Parzefall und Jochen Dingfelder — Albert-Ludwigs-Universität Freiburg

Bei dem für 2019 geplanten Luminositätsupgrade des LHC zum sLHC erwartet man, dass die Ereignisrate im ATLAS Detektor um einen Faktor zehn steigen wird. Dies führt zu Fluenzen, die um mehr als eine Größenordnung höher sind als am LHC. Daher werden Siliziumdetektoren benötigt, die strahlenresitenter sind als die bisher in ATLAS genutzten. Die Entwicklung besonders strahlenharter Siliziumdetektoren für das Upgrade des ATLAS-Spurdetektors ist daher essentiell.

In diesem Vortrag werden Teststrahlmessungen von bestrahlten und unbestrahlten planaren n-in-p FZ Streifendetektoren aus dem offiziellen ATLAS-Prototyp-Programm vorgestellt. Die Teststrahlmessung wurde mit Hilfe des Helsinki Beam Teleskops durchgeführt, welches analoge CMS-Auslesechips nutzt. Die Detektoren wurden mit Fluenzen bis zu Φ_eq= 3· 10¹⁵cm⁻² bestrahlt, dies liegt in der Größenordnung der erwarteten Dosis für die inneren Streifenlagen am sLHC. In diesem Vortrag wird insbesondere auf die Ladungssammlungseffizienz, das Signal-zu-Rausch-Verhältnis und Auflösungsvermögen der Detektoren eingegangen.