Bonn 2010 – scientific programme

Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help

T: Fachverband Teilchenphysik

T 64: Strahlenhärte von Halbleiterdetektoren II

T 64.5: Talk

Thursday, March 18, 2010, 17:45–18:00, HG ÜR 6

Vorstellung einer vollautomatisierten Messstation zur Untersuchung der Ladungssammlung bestrahlter Streifensensoren und erste Messergebnisse — Tobias Barvich, Felix Bögelspacher, Alexander Dierlamm, Martin Frey, Thomas Müller, •Tanja Pfister, Pia Steck und Thomas Weiler — Institut für Experimentelle Kernphysik, KIT

Hinsichtlich des kommenden LHC Upgrades zum SLHC (Super Large Hadron Collider) werden strahlenhärtere Sensoren benötigt. Um diese Eigenschaft geeignet testen zu können, wird die Ladungssammlungseffizienz untersucht. Im Rahmen von RD50 wurde ein kompaktes und transportables Auslesesystem für Silizium Streifensensoren entwickelt. Diese kommen in Spurdetektoren der Experimente am LHC bereits zum Einsatz. Das System wurde am Institut für Experimentelle Kernphysik des KIT in einen neuen Messaufbau integriert. Der Aufbau beinhaltet einen Sr-Quellen- und einen Laser-Scan Modus. Das entwickelte Kühlungsystem erreicht Temperaturen zwischen -40 und +40*°C und kann mittels Peltier Elementen auch Annealingphasen der Sensoren erlauben. Per LabView Oberfläche können beide Setup Varianten über Präzisionsverfahrtische angefahren werden und automatisierte Messungen bei gezielt gewählten Temperaturrampen sowie Spannungsrampen gestartet werden. Erste Kalibrationsmessungen wurden druchgeführt und erste Messungen werden vorgestellt.