Hannover 2010 – wissenschaftliches Programm
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A: Fachverband Atomphysik
A 8: Poster I
A 8.11: Poster
Dienstag, 9. März 2010, 16:30–19:00, Lichthof
2p-Photoionisation an freien größenselektierten Silizium-Clustern — •Marlene Vogel1, Konstantin Hirsch1, Andreas Langenberg3, Jürgen Probst1, Jochen Rittmann3, Vicente Zamudio-Bayer1, Jörg Wittich1, Silvia Forin1, Felix Ameseder1, Bernd von Issendorff2, Thomas Möller1 und Tobias Lau3 — 1Technische Universität Berlin, Institut für Optik und Atomare Physik, EW 3-1, Hardenbergstraße 36, D-10623 Berlin — 2Albert-Ludwigs-Universität Freiburg, Fakultät für Physik/FMF, Stefan-Meier-Straße 21, D-79104 Freiburg — 3Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie, Institut für Methoden und Instrumentierung der Synchrotronstrahlung, Albert-Einstein-Straße 15, D-12489 Berlin
Die Röntgenspektroskopie an freien Clustern stellt aufgrund der niedrigen Targetdichte und des niedrigen Röntgenphotonen-Flusses eine Herausforderung dar. Nun ist es gelungen, Innerschalen-Röntgenspektroskopie an größenselektierten freien Siliziumclustern Sin+ im Größenbereich n=5−92 an der 2p-Kante durchzuführen. Durch die angewandte Methode, die Ionenausbeutespektroskopie, können die direkte Rumpfniveau-Photoionisation und die resonante Rumpfniveau-Anregung getrennt analysiert werden, was eine zur XPS analoge Untersuchung ermöglicht.
Die vorgestellten Ergebnisse gewähren neue interessante Einblicke in die elektronische Struktur kleiner bis mittlerer Siliziumcluster.