Regensburg 2010 – scientific programme

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HL: Fachverband Halbleiterphysik

HL 61: Poster II: Materials, Interfaces and Heterostructures

HL 61.24: Poster

Thursday, March 25, 2010, 18:00–20:00, Poster D1

Quantitative Untersuchung von ZnTe-basierten optoelektronischen Heterostrukturen mittels Transmissionselektronenmikroskopie — •Kristian Frank¹, Marco Schowalter¹, Andreas Rosenauer¹, Wojciech Pacuski^1,2, Carsten Kruse¹ und Detlef Hommel¹ — ¹Institut für Festkörperphysik, Universität Bremen, Otto-Hahn-Allee 1, 28359 Bremen, Deutschland — ²Institute of Experimental Physics, University of Warsaw, Ho.za 69, PL-00-681 Warszawa, Poland

Es wurde eine mittels MEE(migration enhanced epitaxy) gewachsene CdZnTe/ZnTe Quantenpunktschicht untersucht. Um die für die Untersuchung benötigten 10-20 nm dünnen Proben mit reiner Oberfläche zu erhalten wurden FIB(focused ion beam)-Lamellen präpariert, welche anschließend mit niederenergetischer Ionenätzung bei einer Ar⁺-Ionenenergie von 400V behandelt wurden. Diese Proben wurden dann mit dem Transmissionselektronenmikroskop untersucht. Durch Abbildung mit dem verzerrungssensitiven 004-Reflex konnten Verzerrungsfelder sichtbar gemacht werden, welche auf das Vorhandensein von Quantenpunkten hindeuten. Sowohl Untersuchungen mittels der CELFA(composition evaluation by lattice fringe analysis)-Methode, als auch Analysen der Gitterverzerrung mit DALI(digital analysis of lattice fringe images) weisen auf signifikante Fluktuationen der Cadmium-Konzentration innerhalb der Quantenschicht hin. Für beide Methoden wurden hochaufgelöste Gitterebenenabbildungen aufgenommen und der Kontrast der Gitternetzebenen bei CELFA bzw. der Gitternetzebenenabstand bei der Verzerrungsanalyse ausgewertet.