Regensburg 2010 – scientific programme

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MM: Fachverband Metall- und Materialphysik

MM 6: Diffusion and Point Defects II

MM 6.3: Talk

Monday, March 22, 2010, 12:00–12:15, H6

Untersuchung von Korngrenzen in Kupfer mithilfe eines Feinfokus-Positronen-Strahles — •Reinhard Sottong, Patrick Eich, Matz Haaks und Karl Maier — Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Nußallee 14-16, 53115 Bonn

Die Positronen-Annihilations-Spektroskopie (PAS) ist eine renommierte Methode zur Untersuchung von Kristalldefekten. Die Positronen dienen hierbei als Sondenteilchen, mit denen einzelne Fehlstellen beobachtbar sind.

Durch Glühen von OFC-Kupfer bei 1000°C und langsames Abkühlen auf Raumtemperatur wurden in einer Probe Körner mit einer Größe von 40 μm mal 100 μm erzeugt. Unter mechanischer Beanspruchung stellen die Korngrenzen Hindernisse für das Gleiten von Versetzungen dar, wodurch es hier zu einem Stapeln der Versetzungen kommt.

Mit der Bonner Positronen-Mikrosonde (BPM) wurde die Fehlstellendichte an einem Korn mit einer Ortsauflösung von 1 μm sowohl im unverformten Zustand als auch nach plastischer Deformation untersucht. Der Vergleich dieser Messergebnisse zeigt eine Erhöhung der Fehlstellendichte an den Korngrenzen. Positronen als Fehlstellensonden mit hoher Ortsauflösung sind ein einfaches Verfahren, um z.B. Versetzungsaufstau an Hindernissen bei schwacher Verformung zu beobachten.