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MI: Fachverband Mikrosonden

MI 5: X-Ray Spectrometry and Tomography

MI 5.1: Hauptvortrag

Dienstag, 15. März 2011, 09:30–10:15, BEY 81

Röntgenspektroskopie an hochgeladenen Ionen — •Günter Zschornack — Technische Universität Dresden, Fachbereich Physik, Dresden

Röntgenspektroskopie an hochgeladenen Ionen ist von grundlegendem Interesse für basisphysikalische Untersuchungen bis hin zur Gewinnung spezieller Atomdaten für die Fusionsforschung, Metrologie und Astrophysik. Mit der Verfügbarkeit von EBIS/EBIT-Ionenquellen sind hervorragende Voraussetzungen für die energie- und wellenlängendispersive Spektrometrie von Röntgenstrahlung aus Prozessen der Direkten Anregung, der Strahlenden Rekombination und der Dielektronischen Rekombination gegeben. An Hand ausgewählter Resultate berichten wir über spektroskopische Messungen an wasserstoff- bis neonähnlichen Fe-, Ar-, Kr- und Xe-Ionen, welche in hochdichten Elektronenstrahlen erzeugt wurden. Neben klassischer Röntgenspektroskopie wurde zeitaufgelöst die Röntgenstrahlung bei fortschreitender Ionisation in der Ionenfalle von EBIS/T vermessen und ausgewertet. Darüber hinaus werden Beispiele für die Röntgenemission bei der Wechselwirkung hochgeladener Ionen mit Festkörperoberflächen diskutiert. Der Vortrag gibt eine Übersicht über verschiedene relevante spektroskopische Techniken und zeigt Möglichkeiten, wie die Röntgenspektroskopie an hochgeladenen Ionen der Gewinnung grundlegender physikalischer Erkenntnisse dient.