MI 5: X-Ray Spectrometry and Tomography
Tuesday, March 15, 2011, 09:30–12:45, BEY 81
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09:30 |
MI 5.1 |
Invited Talk:
Röntgenspektroskopie an hochgeladenen Ionen — •Günter Zschornack
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10:15 |
MI 5.2 |
Feinfokussierte Strahlen von hochgeladenen Ionen (HCI-FIB) — •Mike Schmidt, Günter Zschornack, Vladimir Petrovich Ovsyannikov und Jaques Gierak
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10:30 |
MI 5.3 |
Hochauflösende Elektronenstrahlmikroanalyse im Submikrometerbereich — •Jürgen Börder
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10:45 |
MI 5.4 |
Untersuchungen des Titan / Titankeramik - Verbundes unter besonderer Berücksichtigung von EDX - Analysen — •Gert Richter, Alexander Schubert, Heike Meißner, Ursula Range, Klaus Böning, Bernd Reitemeier, Enrico Langer und Siegfried Däbritz
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11:00 |
MI 5.5 |
Mikro-Röntgenfluoreszenz - Alternative oder Ergänzung zur Elektronenstrahlmikroanalyse? — •Michael Haschke, Ulrich Waldschläger, Uwe Rossek und Roald Tagle
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11:45 |
MI 5.6 |
Sequential femtosecond X-ray imaging — Christian M. Günther, •Bastian Pfau, Rolf Mitzner, Björn Siemer, Sebastian Roling, Helmut Zacharias, Oliver Kutz, Ivo Rudolph, Rolf Treusch, and Stefan Eisebitt
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12:00 |
MI 5.7 |
The nano tomography setup at the HZG imaging beamline at PETRA III — •Malte Ogurreck, Astrid Haibel, Felix Beckmann, Fabian Wilde, Martin Müller, and Andreas Schreyer
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12:15 |
MI 5.8 |
X-ray nano-tomography and nano-spectroscopy with the HZB X-ray microscope — •Peter Guttmann, Stefan Rehbein, Stephan Werner, and Gerd Schneider
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12:30 |
MI 5.9 |
Development of high energy spin-resolved photoelectron spectroscopy technique for the exploration of novel functional materials for spintronic applications. — •G. Stryganyuk, E. Ikenaga, X. Kozina, T. Sugiyama, K. Kobayashi, K. Inomata, A. Gloskovskii, G. Schoenhense, G. Fecher, and C. Felser
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