Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Aktualisierungen | Downloads | Hilfe

O: Fachverband Oberflächenphysik

O 23: Scanning probe methods II

O 23.6: Vortrag

Montag, 14. März 2011, 18:30–18:45, WIL C307

AFM an Nanodrähten: Oberflächenpotentiale und Dissipation aus abstandsabhängigen Resonanzkurven im intermittent-contact-Modus — •Moid Bhatti, Lars Ungewitter, Ivo Knittel und Uwe Hartmann — Fachrichtung Experimentalphysik, Universität des Saarlandes, 66123 Saarbrücken

Der intermittent-contact ist der am weitesten verbreitete Modus der Rasterkraftmikroskopie, insbesondere, weil er schonend mit Probe und Spitze umgeht. Wir haben abstandsabhängige Resonanzkurven im intermittent-contact-Regime aufgenommen und simuliert. Diese Kurvenscharen enthalten mehr Informationen als eine einzelne Kraft-Abstandskurve und erlaubten es, durch Vergleich mit Simulationen detaillierte Aussagen über das Spitze-Probe-Potential und Dissipation zu machen. Die Ergebnisse werden mit einer Analyse konventioneller Kraft-Abstandskurven verglichen.

Nanodrähte mit einer Federkonstanten um 1N/m und Resonanzfrequenzen von 10MHz bis 1GHz werden bereits als AFM-Spitzen mit hohem Aspektverhältnis verwendet und stellen wegen ihrer Resonanzfrequenzen im MHz-Bereich mögliche 'Nanocantilever' für Rasterkraftmikroskope mit hoher Datenrate dar. Die Wechselwirkung zwischen Nanodraht und AFM-Spitze wird für lithographisch hergestellte Silizum-Nanodrähte [1] (Länge 5000 nm, Durchmesser 150nm ) und selbstorganisiert gewachsene Zinnoxid-Nanodrähte [2] (Länge 300nm , Durchmesser 20nm ) untersucht.

[1] Shunfeng Li et al; Phys. Status Solidi C 7, 84 (2010). [2] S. Barth et al.; Nanotechnology 20, 115705 (2009).