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T: Fachverband Teilchenphysik

T 63: Halbleiterdetektoren III

T 63.8: Vortrag

Mittwoch, 30. März 2011, 18:30–18:45, 30.21: 001

Ladungsverluste in unbestrahlten Streifensensoren — •Thomas Pöhlsen, Robert Klanner, Sergej Schuwalow, Jörn Schwandt und Jiaguo Zhang — Institut für Experimentalphysik, Universität Hamburg

Bei segmentierten p⁺-n-Siliziumzählern bildet sich an der Si-SiO₂-Grenzfläche eine Akkumulationsschicht aus, die zu einer Änderung der Feldverteilung und Ladungssammlung führt. Mit Hilfe der Transient Current Technique (TCT) werden die Pulsformen an den einzelnen Streifen, die durch fokussiertes Laserlicht der Wellenlänge λ = 660nm erzeugt werden, untersucht. Es wird gefunden, dass im Bereich der Akkumulationsschicht Ladungsträger verloren gehen.