T 63: Halbleiterdetektoren III
Wednesday, March 30, 2011, 16:45–19:00, 30.21: 001
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16:45 |
T 63.1 |
Auswirkungen von Kristallgitterschäden auf die elektrischen Eigenschaften von Test-Dioden für den Ausbau des CMS-Spurdetektors — •Alexandra Junkes, Doris Eckstein, Joachim Erfle, Eckhart Fretwurst, Thomas Pöhlsen und Georg Steinbrück
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17:00 |
T 63.2 |
Modellierung und Simulation strahlengeschädigter Silizium-Sensoren — Robert Klanner und •Jörn Schwandt
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17:15 |
T 63.3 |
Streifen-Sensorsimulationen für das Upgrade des CMS Spurdetektors — •Matthias Bergholz
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17:30 |
T 63.4 |
Simulationen zu Siliziumsensoren — Wim de Boer, Alexander Dierlamm, Robert Eber, •Thomas Eichhorn, Frank Hartmann, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller, Andreas Nürnberg und Mike Schmanau
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17:45 |
T 63.5 |
Berechnung der Strahlenhärte von Diamant- und Siliziumdetektoren mit FLUKA im Vergleich zu Teststrahldaten. — •Steffen Müller, Wim de Boer und Richard Hall-Wilton
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18:00 |
T 63.6 |
Diamond Pixel Detector Development and Estimation of its Radiation-Hardness — •Jieh-Wen Tsung, Fabian Hügging, and Norbert Wermes
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18:15 |
T 63.7 |
Beam Loss Monitors for ATLAS and the LHC — •Hendrik Jansen, Heinz Pernegger, and Norbert Wermes
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18:30 |
T 63.8 |
Ladungsverluste in unbestrahlten Streifensensoren — •Thomas Pöhlsen, Robert Klanner, Sergej Schuwalow, Jörn Schwandt und Jiaguo Zhang
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18:45 |
T 63.9 |
Strahlungsstudien an CMS Pixel Detektoren — Tobias Barvich, Wim de Boer, •Pawel Jodiss, Thomas Müller, Pia Steck, Hans-Jürgen Simonis und Thomas Weiler
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