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T: Fachverband Teilchenphysik

T 64: Halbleiterdetektoren IV

T 64.2: Vortrag

Donnerstag, 31. März 2011, 17:00–17:15, 30.21: 001

Lorentzwinkelmessungen an hochbestrahlten Siliziumstreifensensoren — Tobias Barvich¹, Wim de Boer¹, Alexander Dierlamm¹, Karl-Heinz Hoffmann¹, Thomas Müller¹, •Andreas Nürnberg¹, Mike Schmanau¹, Theo Schneider², Pia Steck¹ und Thomas Weiler¹ — ¹Institut für Experimentelle Kernphysik (EKP), KIT — ²Institut für Technische Physik (ITEP), KIT

Nach dem geplanten Upgrade des LHC zum SLHC werden die Siliziumsensoren des CMS-Spurdetektors noch höheren Teilchenflüssen ausgesetzt sein, als im derzeitigen Detektor. Im Rahmen der Forschungsaktivitäten für den notwendigen Neubau des CMS Spurdetektors werden gegenwärtig verschiedene Siliziummaterialien (n- und p- Typ, FZ, MCz, Epi) auf ihre Strahlenhärte und ihre Eignung als Sensormaterial für den Spurdetektor am SLHC untersucht. Im Magnetfeld des Detektors wird die Ortsauflösung des Spurdetektors durch den Lorentzwinkel beeinflusst. Er ist abhängig von Spannung, Magnetfeld, Temperatur, Materialtyp, Sensordicke und Fluenz. Der Lorentzversatz soll daher an hoch bestrahlten n- und p-Typ Streifensensoren unterschiedlicher Dicken bis zu einer Magnetfeldstärke von 8T und bei Temperaturen bis zu -40°C vermessen werden. Der Messaufbau und erste Ergebnisse werden hier präsentiert.