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Karlsruhe 2011 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 66: Halbleiterdetektoren VI

T 66.5: Talk

Friday, April 1, 2011, 15:00–15:15, 30.22: 022

CCE- und TCT-Messungen an bestrahlten Dioden aus einer Vielzahl von Materialien, Dicken und FluenzenTobias Barvich, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, •Robert Eber, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller, Martin Frey und Pia Steck — Institut für Experimentelle Kernphysik (EKP), KIT

Im Rahmen der groß angelegten Studie zur Ermittlung der zukünftigen Sensortechnologie des CMS-Spurdetektor nach dem Upgrade des LHC werden TCT- und CCE-Messungen an Dioden eines Herstellers mit verschiendenen Grundmaterialien und verschiedenen Dicken gezeigt. Erste Ladungssammlungseffizienzmessungen an Dioden, welche mit Fluenzen größer F=1014Neq/cm2 mit Protonen, Neutronen, oder mit beiden Teilchensorten gemischt bestrahlt wurden, geben einen ersten Eindruck über die Strahlenhärte der verwendeten Materialien. Weiterhin lassen sich Trappingzeiten und elektrische Felder, welche das Ladungssammlungsverhalten maßgeblich beeinflussen, aus den aufgenommenen TCT-Messungen bestimmen. Die Messungen spiegeln ebenso das Verhalten bekannter Messungen wieder, wie sie auch Unterschiede zwischen einzelnen Dicken und Siliziumherstellungsverfahren herausstellen.

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