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14:00 |
T 66.1 |
Aufbau eines Teststandes (ALIBAVA) für Siliziumstreifendetektoren — •Victor Danescu, Doris Eckstein, Joachim Erfle und Georg Steinbrück
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14:15 |
T 66.2 |
CEC Messkampagne: Materialqualifikation und erste Ergebnisse — •Christian Scharf, Joachim Erfle, Thomas Poehlsen, Georg Steinbrück und Robert Klanner
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14:30 |
T 66.3 |
Verständnis von Dotierungsprofilen und Defektkonzentrationen im Zusammenspiel von IV/CV-, TCT-, DLTS- und TSC-Messungen — •Joachim Erfle, Doris Eckstein, Alexandra Junkes, Thomas Poehlsen, Christian Scharf und Georg Steinbrück
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14:45 |
T 66.4 |
Untersuchung von Siliziumstreifensensoren für den Einsatz am sLHC — Tobias Barvich, Felix Bögelspacher, Alexander Dierlamm, Frank Hartmann, •Karl-Heinz Hoffmann, Andreas Kornmayer, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
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15:00 |
T 66.5 |
CCE- und TCT-Messungen an bestrahlten Dioden aus einer Vielzahl von Materialien, Dicken und Fluenzen — Tobias Barvich, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, •Robert Eber, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller, Martin Frey und Pia Steck
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15:15 |
T 66.6 |
Studies on radiation hardness of DEPFET-like test structures — •Andreas Ritter, Ladislav Andricek, Christian Koffmane, Hans-Günther Moser, Jelena Ninkovic, Rainer Richter, Andreas Wassatsch, and on behalf of the DEPFET-Collaboration
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15:30 |
T 66.7 |
Sensor studies of n+-in-n planar pixel sensors for the ATLAS upgrades — Silke Altenheiner, Claus Gössling, •Jennifer Jentzsch, Reiner Klingenberg, Daniel Muenstermann, André Rummler, Georg Troska, and Tobias Wittig
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15:45 |
T 66.8 |
Messungen an bestrahlten Silizium-Streifendetektoren für das ATLAS-Upgrade — •Adrian Driewer, Karl Jakobs, Michael Köhler und Ulrich Parzefall
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16:00 |
T 66.9 |
Aufbau eines Messstandes für Silizium-Sensoren für den CMS-Spurdetektor am SLHC — Lutz Feld, Waclaw Karpinski, Katja Klein, Jennifer Merz, Jan Sammet, •Jakob Wehner und Michael Wlochal
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