Kiel 2011 – scientific programme

Parts | Days | Selection | Search | Updates | Downloads | Help

P: Fachverband Plasmaphysik

P 2: Magnetischer Einschluss I

P 2.5: Talk

Monday, March 28, 2011, 18:10–18:25, HS C

Untersuchung ELM-induzierter Strahlung mit AXUV Dioden am Tokamak ASDEX Upgrade — •Matthias Bernert, Thomas Eich, Christoph Fuchs, Arne Kallenbach, Rachael McDermott, Eleonora Viezzer und das ASDEX Upgrade Team — Max-Planck-Institut für Plasmaphysik, 85748 Garching

Mit einer neu eingeführten schnellen Dioden-Diagnostik am Tokamak ASDEX Upgrade lässt sich Strahlung aus einem breiten Wellenlängenbereich beobachten, insbesondere Randschichtstrahlung mit Photonenenergien unter 500eV. Speziell die charakteristische Strahlung von Edge-Localized Modes (ELMs) und deren zeitlicher und räumlicher Verlauf wurden damit im Detail studiert. Die Diagnostik basiert auf AXUV Dioden und deckt mit 240 Sichtstrahlen einen kompletten poloidalen Querschnitt des Experiments sowie verschiedene toroidale Positionen ab. Mit 5µ s bietet sie eine um mehr als 3 Größenordnungen bessere Zeitauflösung als die vergleichbare Folienbolometrie. Allerdings wurde eine strahlungsinduzierte Degradation der Diodensensitivität innerhalb weniger Plasmasekunden gemessen.

Eine erste wichtige Beobachtung zeigt, dass die durch ELMs auf die Divertorprallplatten konvektiv abgeführte Leistung durch Strahlung bereits innerhalb der typischen parallelen Transportzeit in der Randabschälschicht (SOL) von einigen hundert Mikrosekunden reduziert wird. Neben den Strahlungspeaks der ELMs können auch räumlichen Substrukturen, sogenannte ELM induzierte Filamente, mit der Diagnostik erkannt werden. Mehrere toroidale Messungen ermöglichen die Bestimmung der Rotation und Modenzahl dieser Filamente.