Münster 2011 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Aktualisierungen | Downloads | Hilfe

DD: Fachverband Didaktik der Physik

DD 18: Postersitzung

DD 18.2: Poster

Dienstag, 22. März 2011, 16:30–18:00, Foyer Chemie

Ein Rasterkraftmikroskop für das Schülerlabor — •Manuel Schaupp, Antje Bergmann und Kurt Busch — Institut für theoretische Festkörperphysik, Karlsruher Institut für Technologie, Karlsruhe, Deutschland

Mit einem Rasterkraftmikroskop (engl. Atomic Force Microscope, kurz AFM) kann man die Oberfläche von Objekten bis in die Nanometerskala untersuchen. Das AFM besitzt somit eine Auflösung weit jenseits des Auflösungsvermögens optischer Geräte. Das Objekt wird bei der Messung mechanisch von der Spitze einer sehr feinen Nadel (Cantilever) abgetastet. Es wird dazu von einem Piezo-Positioniertisch nach vorgegebenem Raster bewegt. Die Auswertungssoftware ordnet jedem gemessenen Punkt die entsprechende Auslenkung des Cantilevers zu und generiert daraus ein Oberflächenprofil des Objekts.

Es ist unser Ziel einen möglichst preisgünstigen und übersichtlichen Aufbau eines AFMs zu realisieren, welcher Schülern und Studenten die prinzipielle Funktionsweise eines solchen Geräts anhand einfacher Versuche demonstriert.

In diesem Beitrag werden Aufbau, Funktionsweise sowie erste Ergebnisse vorgestellt.