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HL: Fachverband Halbleiterphysik

HL 92: Poster Session: II-VI Semiconductors & ZnO and related Materials

HL 92.3: Poster

Donnerstag, 29. März 2012, 16:00–19:00, Poster D

Optische Beobachtung der Au-Diffusion in CdTe — •Robert Gerten, Florian Strauß, Herbert Wolf, Manfred Deicher und Thomas Wichert — Technische Physik, Universität des Saarlandes, 66123 Saarbrücken

Ortsaufgelöste Photolumineszenzmessungen (µPL) erlauben die gleichzeitige Beobachtung der Diffusion aller optisch aktiven Defekte in einem Halbleiter. In CdTe wurde mit Radiotracer-Experimenten gezeigt, dass ¹⁹³Au nach Implantation und Tempern unter Cd-Atmosphäre bei 800 K ein zur Probenmitte symmetrisches Uphill-Diffusionsprofil ausbildet [1]. Zur Untersuchung des zugrundeliegenden Mechanismus wurden µPL-Messungen an Te-reichen, einseitig mit Au implantierten CdTe-Kristallen durchgeführt. Nach Tempern unter den obigen Bedingungen stimmt die Form des Intensitätsprofils des mit Au-korrellierten PL-Signals sehr gut mit den Konzentrationsprofilen aus Radiotracer-Experimenten überein [1]. Die Intensitätsprofile der gleichzeitig beobachteten anderen Akzeptor- oder Donator-korrelierten Defekte stimmen mit den Beobachtungen von Horodyský et al. [2] an nominell undotiertem CdTe überein und liefern Informationen über das Diffusionsverhalten von Verunreinigungen und intrinsischen Defekten in CdTe. Diese mit der Radiotracer-Methode nicht zugänglichen Informationen bestätigen das Modell über die Entstehung solcher Konzentrationsprofile [1] und zeigen, dass diese Verunreinigungen ebenfalls entgegen ihres Konzentrationsgradienten diffundieren.
H. Wolf et al., Phys. Status Solidi B 247 (2010) 1405
P. Horodyský et al., Phys. Status Solidi C 2 (2005) 1189