Berlin 2012 – wissenschaftliches Programm

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O: Fachverband Oberflächenphysik

O 35: Poster Session II (Polymeric biomolecular films; Nanostructures; Electronic structure; Spin-orbit interaction; Phase transitions; Surface chemical reactions; Heterogeneous catalysis; Particles and clusters; Surface magnetism; Electron and spin dynamics; Surface dynamics; Methods; Electronic structure theory; Functional molecules)

O 35.98: Poster

Dienstag, 27. März 2012, 18:15–21:45, Poster B

Dynamische Rasterreibungskraftmikroskopie: Bildkontrast bei höheren Moden auf HOPG — •Felix Mertens, Karsten Krischker, Thomas Göddenhenrich und André Schirmeisen — Institut für Angewandte Physik, Justus-Liebig-Universität Gießen, D-35392 Gießen

Es wird ein Modulations-Reibungsmikroskop präsentiert, das für Topographie- und Reibungsmessungen unter UHV Bedingungen geeignet ist [1]. Eine modifizierte Lock-In Technik regt die Probe zu Schwingungen entlang der Hebelarmlängsachse an [2]. Durch den Spitze-Probe Kontakt werden dem Hebelarm Oszillationen aufgeprägt, die durch ein Glasfaserinterferometer detektiert werden. Entspricht die Anregungsfrequenz der modulierten Probenschwingung einem ganzzahligen Bruchteil der Hebelarmbiegeresonanz, so setzt sich die Hebelarmoszillation sowohl aus niederfrequenten als auch aus hochfrequenten Schwingungsanteilen zusammen. Die niederfrequenten Schwingungsanteile korrespondieren mit der Topographie, die Anregung der hochfrequenten Schwingungsanteile wird durch den Reibungskontakt verursacht. Die Anwendung dieser Technik auf hochorientiertem Pyrographit ermöglicht Reibungsaufnahme, bei denen die Orientierung der Kornstruktur einen wesentlichen Kontrastmechanismus der Aufnahme darstellt. [1] T. Göddenhenrich, S. Müller, and C.Heiden, Rev. Sci. Instrum. 65, 2870 (1994) [2] A. Spychalski-Merle, K. Krischker, T. Göddenhenrich, and C. Heiden, Appl. Phys. Lett. 77, 501 (2000)