Göttingen 2012 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 65: Halbleiterdetektoren: Neue Materialien und Konzepte

T 65.7: Vortrag

Mittwoch, 29. Februar 2012, 18:15–18:30, ZHG 001

Lorentzwinkelmessungen an gemischt bestahlten Streifensensoren — Tobias Barvich¹, Felix Bögelspacher¹, Wim deBoer¹, Alexander Dierlamm¹, Frank Hartmann¹, Karl-Heinz Hoffmann¹, Thomas Müller¹, •Andreas Nürnberg¹, Mike Schmanau¹, Max Schmenger¹, Theo Schneider² und Pia Steck¹ — ¹Institut für Experimentelle Kernphysik (EKP), KIT — ²Institut für Technische Physik (ITEP), KIT

Durch den geplanten Ausbau des LHC zum HL-LHC werden die Siliziumdetektoren des CMS-Spurdetektors noch höheren Teilchenflüssen ausgesetzt sein, als bisher. Für den notwendigen Austausch des Detektors werden gegenwärtig verschiedene Siliziummaterialien auf ihre Strahlenhärte und auf ihre Eignung als mögliches Sensormaterial für den neuen Detektor untersucht. Die Siliziumsensoren sind dem 3.8T starken Magnetfeld innerhalb des Detektors ausgesetzt, weshalb die Ortsauflösung des Spurdetektors durch den Lorentzwinkel beeinflusst wird. Aus diesem Grund wurden Lorentzwinkelmessungen bei Magnetfeldstärken bis 8T an gemischt bestrahlten Streifensensoren durchgeführt. Bisher deckt die Studie gemischt bestrahltes floatzone Material sowie protonbestrahltes floatzone und magnetic-czochralski Material ab. Dieser Vortrag gibt eine Übersicht über die bisher gewonnenen Ergebnisse.