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Göttingen 2012 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 65: Halbleiterdetektoren: Neue Materialien und Konzepte

Mittwoch, 29. Februar 2012, 16:45–19:00, ZHG 001

16:45 T 65.1 Dünne Silizium-Sensoren und 3D-Integration für den ATLAS Pixel-Detektor am HL-LHC — •Philipp Weigell, Ladislav Andricek, Anna Macchiolo, Hans-Günther Moser, Richard Nisius und Rainer Richter
17:00 T 65.2 Messungen an bestrahlten n+-in-n ATLAS Silizium-Pixelsensoren mit unbestrahlter Ausleseelektronik unter Benutzung eines passiven Fanout-ChipsSilke Altenheiner, Claus Gößling, Reiner Klingenberg, Tobias Lapsien, •Till Plümer, André Rummler, George Troska und Tobias Wittig
17:15 T 65.3 Studies of proton irradiated n+-in-n planar pixel sensors for the ATLAS upgrade — •Silke Altenheiner, Claus Gößling, Reiner Klingenberg, Tobias Lapsien, Till Plümer, André Rummler, and Tobias Wittig
17:30 T 65.4 Charakterisierung von planaren- und 3d-Sensor-Modulen für das ATLAS Pixeldetektor Upgrade — •David-Leon Pohl, Malte Backhaus, Jörn Grosse-Knetter, Fabian Hügging, Jens Janssen, Hans Krüger, Jens Weingarten und Norbert Wermes
17:45 T 65.5 Upgrade of the ATLAS Silicon Strip Detector for the LHC High Luminosity Phase — •Conrad Friedrich
18:00 T 65.6 Untersuchungen zur Ladungsmultiplikation bei hochbestrahlten Siliziumstreifensensoren — •Lokman Altan, Tobias Barvich, Felix Bögelspacher, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, Karl-Heinz Hoffmann und Pia Steck
18:15 T 65.7 Lorentzwinkelmessungen an gemischt bestahlten StreifensensorenTobias Barvich, Felix Bögelspacher, Wim deBoer, Alexander Dierlamm, Frank Hartmann, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller, •Andreas Nürnberg, Mike Schmanau, Max Schmenger, Theo Schneider und Pia Steck
18:30 T 65.8 Einfluss von Strahlenschäden und Annealingzeiten auf die Ladungssammlungseffizienz und das Signal-zu-Rauschen-Verhältnis von Siliziumstreifensensoren unterschiedlicher MaterialienTobias Barvich, Felix Bögelspacher, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, Robert Eber, •Sabine Frech, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller und Pia Steck
18:45 T 65.9 Untersuchungen zur Strahlenhärte von Silizium Photomultiplier Arrays — •Mirco Deckenhoff und Robert Ekelhof
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