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T: Fachverband Teilchenphysik
T 67: Halbleiterdetektoren: Strahlenschäden
T 67.3: Vortrag
Freitag, 2. März 2012, 09:00–09:15, ZHG 001
Systematische Untersuchung verschiedener Siliziummaterialien auf Strahlenhärte für den HL-LHC — •Joachim Erfle1, Alexander Dierlamm3, Robert Eber3, Doris Eckstein2, Karl-Heinz Hoffmann3, Alexandra Junkes1, Evangelos Nagel1, Coralie Neubüser1, Andreas Nürnberg3, Thomas Pöhlsen1, Christian Scharf1, Georg Steinbrück1 und Henning Wenck1 — 1Universität Hamburg — 2DESY Hamburg — 3Karlsruhe Institut für Technologie
Die geplante Hochluminositätserweiterung des LHC (HL-LHC) stellt extreme Anforderungen an die Strahlenhärte der Silizium-Sensoren. Um das beste Material für die Erneuerung des CMS-Spurdetektors auszuwählen, wurden im Rahmen einer CMS-weiten Mess- und Bestrahlungskampagne verschiedene Teststrukturen und Sensoren mit verschiedenen Siliziummaterialien (Magnetic Czochralski, Float-Zone und epitaktisches Silizium) produziert. Der erste Teil des geplanten Bestrahlungs- und Messprogramms wurde mittlerweile durchgeführt. Erste Ergebnisse zu Leckstrom, effektiver Dotierungskonzentration sowie Ladungssammlung werden vorgestellt.