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K: Fachverband Kurzzeitphysik
K 1: Methoden und Verfahren
K 1.3: Vortrag
Montag, 12. März 2012, 15:15–15:30, V57.04
Einblick in den Ionisationsbereich eines fokussierten FEL-Strahls — •Thomas Gebert1, Ulrike Frühling1, Marek Wieland1, Dimitrios Rompotis1, Thomas Gaumnitz1, Elke Plönjes-Palm2, Thomas Nisius3, Johannes Ewald3, Stefan Dickl3, Thomas Wilhein3 und Markus Drescher1 — 1Universität Hamburg - Institut für Experimentalphysik, Luruper Chaussee 149, D-22761 Hamburg, Germany — 2HASYLAB (DESY), Notkestr. 85, D-22607 Hamburg, Germany — 3RheinAhrCampus, Südallee 2, D-53424 Remagen, Germany
Für Experimente zur nichtlinearen Physik im Fokus intensiver Röntgenpulse ist die genaue Kenntnis der räumlichen Intensitätverteilung von großer Bedeutung. Es wird ein Ionenmikroskop als Werkzeug zur nichtinvasiven orts- und zeitaufgelösten Messung von Ionenverteilungen vorgestellt. Dieses Mikroskop gibt Aufschluss über die Verteilung bestimmter Ionenspezies innerhalb eines Lichtfokus, insbesondere über den Ladungszustand der Ionen an einer bestimmten Stelle der Intensitätsverteilung. Abberationen durch Optiken oder Wellenfront-Deformationen können so im Experiment direkt beobachtet und korrigiert werden. Zusammen mit einer Einzelschuß-THz-Streak-Kamera zur Bestimmung der Pulslänge ergibt sich in einem synchronen Experiment ein umfassendes Bild der zeitlichen und räumlichen Eigenschaften der fokussierten XUV-Pulse des Freie-Elektronen-Lasers FLASH. Es werden erste experimentelle Ergebnisse aus einer Messzeit am FLASH vorgestellt.