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T: Fachverband Teilchenphysik

T 62: Halbleiterdetektoren: Forschung und Entwicklung 2

T 62.7: Vortrag

Montag, 4. März 2013, 18:20–18:35, GER-007

Lorentzwinkelmessungen an hoch bestrahlten Silizium-Streifensensoren — Tobias Barvich¹, Felix Bögelspacher¹, Wim deBoer¹, Alexander Dierlamm¹, Frank Hartmann¹, Karl-Heinz Hoffmann¹, Julius Krause¹, Thomas Müller¹, •Andreas Nürnberg¹, Mike Schmanau¹, Max Schmenger¹, Theo Schneider² und Pia Steck¹ — ¹Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP), KIT — ²Institut für Technische Physik (ITEP), KIT

Durch den geplanten Ausbau des LHC zum HL-LHC werden die Siliziumdetektoren des CMS-Spurdetektors noch höheren Teilchenflüssen ausgesetzt sein, als bisher. Für den notwendigen Austausch des Detektors werden gegenwärtig verschiedene Siliziummaterialien auf ihre Strahlenhärte und auf ihre Eignung als mögliches Sensormaterial für den neuen Detektor untersucht. Die Siliziumsensoren sind dem 3.8T starken Magnetfeld innerhalb des Detektors ausgesetzt, weshalb die Ortsauflösung des Spurdetektors durch den Lorentzwinkel beeinflusst wird. Aus diesem Grund wurden Lorentzwinkelmessungen bei Magnetfeldstärken bis 8T an gemischt bestrahlten Streifensensoren durchgeführt. Um den Einfluss von Wartungsperioden, in denen der Detektor möglicherweise mehrere Tage oder Monate ungekühlt verbleibt abschätzen zu können, wurden die Sensoren einer gezielten Wärmebehandlung unterzogen und erneut im Magnetfeld untersucht. Die Studie deckt dabei sowohl den Bereich des kurzfristigen, beneficial Annealings als auch den langfristigen, eher schädlichen Bereich des reverse Annealings ab.