Dresden 2013 –
wissenschaftliches Programm
T 68: Halbleiterdetektoren: Strahlenhärte, neue Materialien und Konzepte 3
Donnerstag, 7. März 2013, 16:45–18:45, GER-009
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16:45 |
T 68.1 |
Luminosity Measurements in ATLAS with MPX Detectors — •André Sopczak, Nedaa Asbah, Petr Beneš, Benedikt Bergmann, Bartoloměj Biskup, Jan Jakůbek, Claude Leroy, Stanislav Pospíšil, Jaroslav Šolc, Vít Sopko, Paul Soueid, Michal Suk, Daniel Tureček, and Zdeněk Vykydal
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17:00 |
T 68.2 |
Automatic Detection of Single Event Upsets in the Read Out Chips of the CMS pixel detector — •Luigi Calligaris, Andreas Meyer, and Daniel Pitzl
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17:15 |
T 68.3 |
Studies on Activation in the ATLAS cavern with MPX Detectors — •Benedikt Bergmann, André Sopczak, Nedaa Asbah, Bartoloměj Biskup, Jan Jakůbek, Claude Leroy, Stanislav Pospíšil, Jaroslav Šolc, Vít Sopko, Paul Soueid, Michal Suk, Daniel Tureček, Zdeněk Vykydal, and Petr Beneš
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17:30 |
T 68.4 |
Charge Trapping in the Simulation of ATLAS Semi-Conductor Tracker — •Marco Filipuzzi
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17:45 |
T 68.5 |
Charakterisierung von bestrahlten Silizium-Streifen-Sensoren für die HPK-Kampagne des CMS-Detektors — •Sarah Böhm und Lutz Feld
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18:00 |
T 68.6 |
Einfluss von Strahlenschäden auf Siliziumstreifensensoren aus unterschiedlichen Grundmaterialien — Tobias Barvich, Felix Bögelspacher, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, Robert Eber, •Sabine Frech, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller und Pia Steck
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18:15 |
T 68.7 |
Untersuchung der elektrischen Felder und Ladungsträgerlebensdauern in geschädigten Siliziumflächendioden — •Christian Scharf, Erika Garutti, Georg Steinbrück und Thomas Pöhlsen
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18:30 |
T 68.8 |
Simulationen von Strahlenschäden in Siliziumsensoren mit einem effektiven Defekt-Modell — Tobias Barvich, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, •Robert Eber, Thomas Müller und Pia Steck
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