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MS: Fachverband Massenspektrometrie
MS 4: Resonance Ionisation MS, ICPMS and others I
Tuesday, March 19, 2013, 11:00–12:00, F 442
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11:00 | MS 4.1 | Invited Talk: Surface Analysis with ToF-SIMS and Laser-SNMS: Possibilities and Limitations — •Heinrich F. Arlinghaus |
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11:30 | MS 4.2 | Untersuchung des Lösungsverhaltens von neuen Brennstoffmatrices für Generation IV Reaktoren — •Meijie Cheng, Michael Steppert und Clemens Walther |
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11:45 | MS 4.3 | Untersuchung von Uran- und Europium-Acetatkomplexen mittels nano-ESI TOF Massenspektrometrie — •Mareike Daniel, Michael Steppert und Clemens Walther |