Jena 2013 – scientific programme

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DD: Fachverband Didaktik der Physik

DD 17: Postersitzung

DD 17.26: Poster

Tuesday, February 26, 2013, 16:30–17:30, Poster SR 207/208

Das Rasterkraftmikroskop im Praktikum — •Daniela Feigl¹, David Kuhn¹, Manuel Schaupp¹, Antje Bergmann¹ und Günter Quast² — ¹Institut für Theoretische Festkörperphysik, Karlsruher Institut für Technologie — ²Institut für Experimentelle Kernphysik, Karlsruher Institut für Technologie

Nanotechnologie ist in den letzten Jahren sowohl in den Wissenschaften als auch in den Medien ein populäres Schlagwort geworden, das in Form von Produkten wie nanobeschichtete Oberflächen von Textilien bereits in den Alltag Einzug gehalten hat.

Ein Instrument, das große Fortschritte im Bereich der Nanotechnologie ermöglichte, ist das Rasterkraftmikroskop. Mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie wurden entscheidende Erkenntnisse über Oberflächenstrukturen im Nanometerbereich erzielt.

Um Schülern und Studenten einen Einblick in das zukunftsträchtige Feld der Rasterkraftmikroskopie zu ermöglichen, wurde im Physik-Schülerlabor des Karlsruher Instituts für Technologie ein Rasterkraftmikroskop aufgebaut, das sich neben der geringen Kosten durch einen übersichtlichen Aufbau auszeichnet, bei dem alle Komponenten frei zugänglich sind. Mit dessen Hilfe können die Schüler und Studenten von der Datenspur einer CD bis zum Facettenauge eines Insekts eine Vielzahl interessanter Oberflächenstrukturen untersuchen und ebenso Kraft-Abstands-Kurven aufgenommen und ausgewertet werden. In diesem Beitrag werden sowohl der Aufbau als auch die neusten Topografie-Aufnahmen präsentiert. Des Weiteren wird gezeigt, wie sich der Elastizitätsmodul von verschiedenen Materialien berechnen lässt.