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P: Fachverband Plasmaphysik

P 12: Plasmadiagnostik II

P 12.3: Vortrag

Donnerstag, 28. Februar 2013, 11:45–12:00, HS 2

Optisch gefangene Mikropartikel im Plasma — •Viktor Schneider und Holger Kersten — Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel, D-24098 Kiel

Unterschiedliche Kräfte, wie die elektrische Feldkraft oder die Ionenwindkraft, wirken auf geladene Partikel im Plasma. Es liegt daher auf der Hand, Mikropartikel als Sonden zur Plasmadiagnostik zu verwenden. Um beispielsweise die Abläufe und die damit verbundenen Einflüsse auf Oberflächen in einem Plasmaprozess besser verstehen und kontrollieren zu können, ist es wichtig, Plasmaparameter und ihren Einfluss untersuchen zu können. Die Wechselwirkung von Partikeln ist von entscheidender Bedeutung für das Verständnis von grundlegenden Effekten auf dem Gebiet der komplexen Plasmen. Allerdings sind die experimentellen Untersuchungen unter regulären Bedingungen auf die Randschichtregion des Plasmas begrenzt, in der die Mikropartikel aufgrund eines Kräftegleichgewichtes eingefangen werden. Eine Änderung der Teilchenposition ist nur mit erheblichem Aufwand verbunden.

In diesem Beitrag stellen wir den Fortschritt in der Entwicklung eines optischen Systems zur Partikelmanipulation als eine Methode zur Plasmadiagnostik vor. Wir demonstrieren die grundlegenden Prinzipien sowie erste experimentelle Ergebnisse zum optischen Einfang von Mikropartikeln im Plasma.