Jena 2013 – scientific programme

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P: Fachverband Plasmaphysik

P 14: Poster: Komplexe und Staubige Plasmen

P 14.2: Poster

Thursday, February 28, 2013, 14:00–16:00, Poster EG

Imaging-Mie-Elipsometrie
— •Nils Köhler¹, Franko Greiner¹, Jan Carstensen¹, Iris Pilch² und Alexander Piel¹ — ¹Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel, 24098 Kiel, Germany — ²Plasma & Coatings Physics Division, IFM-Materials Physics, Linköping University, SE-581 83 Linköping, Sweden

Zur Untersuchung staubiger Plasmen aus Nanoteilchen wird häufig die von Gustav Mie entwickelte Theorie zur Streuung von Licht verwandt. Die daraus entwickelte Mie Ellipsometrie erlaubt die störungsfreie Bestimmung von Größe und Brechungsindex der Staubwolke in-situ und mit hoher zeitlicher Auflösung. Dabei wurde bisher das unter einem definierten Winkel gestreute Licht eines Laser mit einem Polarimeter analysiert. Dabei ist die gewonnene Information nur die eines Punktes in der ganzen Wolke. Wir haben diese Technik in der Imaging Mie Ellipsometrie (I-Mie) weiterentwickelt. Durch die Verwendung von Kameras und einem Streifenlaser ist es nun möglich 2 dimensionale Profile der Wolke zu erhalten. Hierfür finden sich zahlreiche Anwendungen insbesondere in dynamischen Systemen oder solchen mit unterschiedlichen Partikelpopulationen, z.B. Wachstums- oder Strömungsprozessen.
Diese Arbeit wurde gefördert durch den SFB-TR24 im Projekt A2.