Mainz 2014 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 17: Halbleiter 1

T 17.3: Vortrag

Montag, 24. März 2014, 11:30–11:45, P105

Teststand zur elektrischen und optischen Charakterisierung von SiPMs — Tim Enzweiler, Thomas Hebbeker, •Carsten Heidemann und Markus Merschmeyer — RWTH Aachen, III. Physikalisches Institut A

Silizium-Photomultiplier (SiPMs) sind Lichtdetektoren, die sehr empfindlich für Photonen, aber leider auch für Änderungen der Umgebungsbedingungen sind. Die verschiedenen experimentellen Anwendungen stellen unterschiedliche Anforderungen an die SiPMs. Es wird ein Teststand vorgestellt, der zur Charakterisierung von Photodetektoren, insbesondere SiPMs dient. Der Teststand bietet eine kontrollierte Umgebung für einen großen Temperaturbereich, um die verschiedenen Einsatzszenarien simulieren zu können. Eine spezielle Multifunktionslichtquelle liefert ein breites Spektrum von UV bis Rot mit einstellbarem Photonenfluss, sowohl kontinuierlich als auch gepulst. Mittels Monochromator lassen sich auch schmale Wellenlängenbreiche auswählen. Der Teststand bestimmt die folgenden Eigenschaften vollautomatisch: Rauschraten (thermisch), Noise-Effekte (Crosstalk, Nachpulsen), absolute und relative Photonnachweiswahrscheinlichkeit (PDE), Erholungszeit. Dabei lassen sich diese Eigenschaften temperatur- und spannungsabhängig messen.

Der Beitrag stellt den Gesamtaufbau, die Messsoftware und die Ergebnisse für einige SiPMs vor.