Heidelberg 2015 – scientific programme

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HK: Fachverband Physik der Hadronen und Kerne

HK 50: Instrumentation 15

HK 50.3: Talk

Thursday, March 26, 2015, 15:15–15:30, M/HS1

Abschätzung der strahlungsbedingten Fehlerrate in der CBM-ToF Frontendelektronik — •Sebastian Manz und Udo Kebschull für die CBM Kollaboration — Infrastruktur und Rechnersysteme in der Informationsverarbeitung (IRI), Frankfurt, Deutschland

Für die Auslese der Frontendelektronik des Time-Of-Flight (ToF) Detektors des CBM Experiments sind SRAM basierte FPGAs angedacht. SRAM basierte Elektronik kann durch radioaktive Strahlung, insbesondere durch hochenergetische Hadronen, in der Funktion gestört werden.

Einen besonderen Störfaktor in SRAM basierten FPGAs stellen sogenannte “Sinlge Event Upsets” dar. Um diesem Störfaktor entgegenzuwirken können verschiedene Techniken eingesetzt werden.

Solche Techniken wurden für ein existierendes Auslesedesign implementiert. Hierbei wurden Kompromisse eingegangen um die Kosten des Detektors in realistischen Grenzen zu halten. Die Effizienz dieser Kompromisslösung wurde 2012 und 2013 in Strahltests gemessen.

Nach der Auswertung der Strahltestergebnisse kann nun eine etwas genauere Abschätzung der erwarteten strahlungsbedingten Fehlerraten in der Ausleseelektronik des CBM-ToF Detektors erstellt werden.