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T: Fachverband Teilchenphysik

T 34: Halbleiter: Test und Auslese 1

T 34.2: Vortrag

Montag, 9. März 2015, 17:00–17:15, K.12.18 (K3)

ATLAS Pixel Teststrahlrekonstruktion und Analyse — •Tobias Bisanz, Jörn Große-Knetter, Arnulf Quadt und Jens Weingarten — II. Physikalisches Institut, Georg-August-Universität Göttingen

Für die Entwicklung neuer Pixelsensoren und Auslesesysteme spielen Teststrahlmessungen eine wichtige Rolle. Mit ihrer Hilfe lassen sich Studien zur Charakterisierung neuer Sensoren und Auslesechips durchführen. Unter anderem können Ineffizienzstudien durchgeführt oder Ladungssammlungseigenschaften untersucht werden. Dafür ist es notwendig, dass Teilchenspuren im Testaufbau korrekt rekonstruiert werden. Um dies auch für neuartige Sensoren zu gewährleisten, wurde das ATLAS Pixel Teststrahl Rekonstruktions- und Analyseframework um einige Funktionalität erweitert. Eine Neuerung ist beispielsweise die bessere Unterstützung für allgemeinere Pixelgeometrien, notwendig für die korrekte Beschreibung aktueller Prototypen von ATLAS Pixelsensoren. Diese Änderungen werden zusammen mit einem Ausblick auf zukünftige Entwicklungen vorgestellt.