Hamburg 2016 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 30: Halbleiterdetektoren II (Pixel)

T 30.1: Vortrag

Montag, 29. Februar 2016, 16:45–17:00, VMP8 HS

ATLAS Pixel Teststrahlrekonstruktion und Analyse — •Tobias Bisanz, Jörn Große-Knetter, Arnulf Quadt und Jens Weingarten — II. Physikalisches Institut, Georg-August-Universität Göttingen

Für die Entwicklung neuer Pixelsensoren und Auslesesysteme spielen Teststrahlmessungen eine wichtige Rolle. Mit ihrer Hilfe lassen sich Studien zur Charakterisierung neuer Sensoren und Auslesechips durchführen. Unter anderem können Ineffizienzstudien durchgeführt oder Ladungssammlungseigenschaften untersucht werden. Dafür ist es notwendig, dass Teilchenspuren im Testaufbau korrekt rekonstruiert werden. Um dies auch für neuartige Sensoren zu gewährleisten, wurde das ATLAS Pixel Teststrahl Rekonstruktions- und Analyseframework um einige Funktionalität erweitert. Änderungen werden zusammen mit einem Ausblick auf zukünftige Entwicklungen vorgestellt.