Hamburg 2016 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 96: Halbleiterdetektoren V (DEPFET)

T 96.2: Vortrag

Donnerstag, 3. März 2016, 17:00–17:15, VMP8 HS

Testmessungen an der Ausleseelektronik des Belle II Pixeldetektors — Jochen Dingfelder, Leonard Germic, Tomasz Hemperek, •Jan Cedric Hönig, Hans Krüger, Florian Lütticke, Carlos Marinas, Botho Paschen und Norbert Wermes für die Belle II Kollaboration — Physikalisches Institut, Universität Bonn

Die e+e- Fabrik KEKB in Japan erfährt momentan ein Upgrade hin zum neuen SuperKEKB Beschleuniger, der vielfach höhere Luminosität erreichen wird als sein Vorgänger, was auch ein Upgrade des Belle Detektors notwendig macht. Der verbesserte Belle II Detektor wird einen neu gestalteten Vertex Detektor enthalten, dessen innerste beiden Lagen werden aus Pixelsensoren bestehen, die auf DEPFET (engl.: depleted p-channel field-effect transistor) Technologie basieren.Testmessungen mit den neusten Pixeldetektor-Modulen werden im Moment durchgeführt, um sicherzustellen, dass der Detektor allen Anforderungen gewachsen ist. Eine wichtige Rolle spielt die Ausleseelektronik der Pixelmodule. Eine wesentliche Komponente dieser Ausleseelektronik ist der ADC (Analog-Digital-Converter). In diesem Vortrag wird der für die Belle II Pixelmodule genutzte ADC kurz vorgestellt, die Methoden zur Optimierung des ADCs diskutiert und entsprechende Tests der aktuellen Pixelmodulgeneration vorgestellt. Eine weitere gewünschte Eigenschaft des Detektors ist die Fähigkeit den Detektor blind zu schalten (genannt: gated Modus). Es werden Grundlagen dieses Modus erklärt und aktuelle Ergebnisse vorgestellt.