Hamburg 2016 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 96: Halbleiterdetektoren V (DEPFET)

T 96.4: Vortrag

Donnerstag, 3. März 2016, 17:30–17:45, VMP8 HS

Optimierung des Drain Current Digitizer Chips für den Belle II DEPFET Sensor — •Philipp Wieduwilt, Benjamin Schwenker und Ariane Frey — Universität Göttingen, II. Physikalisches Institut

Der zukünftige Belle II Detektor am SuperKEKB Beschleuniger in Japan wird mit einem hochauflösenden, zentralen Pixeldetektor für genaue Track- und Vertexauflösungen ausgestattet sein. Dieser zweilagige innere Siliziumdetektor basiert auf der DEPFET-Technologie. Die zur Auslese einer DEPFET-Pixelmatrix nötige Digitalisierung von Signalströmen wird in einem speziell entwickelten ASIC-Chip, dem Drain Current Digitizer (DCD), realisiert. Der DCD digitalisiert 256 Eingangsströme in 256 parallel arbeitenden Analog-Digital-Wandlern (ADC). Verschiedene Parameter, Spannungen und Ströme, steuern die Funktionsweise der ADCs. Es ist notwendig, den Arbeitspunkt für die ADCs mithilfe dieser Parameter zu optimieren. In diesem Vortrag wird eine Optimierungsstrategie für den DCD präsentiert und diskutiert. Sie basiert auf der Erkennung spezifischer Fehler in den ADC Kurven, die durch ungünstig gesetzte Parameterwerte entstehen.