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DF: Fachverband Dielektrische Festkörper

DF 11: Poster

DF 11.10: Poster

Mittwoch, 9. März 2016, 18:00–20:00, Poster E

Numerische Simulation von STO mittels Microstrip Geometrie — •Max Pargmann, Daniel Niermann und Joachim Hemberger — 2. Physikalisches Institut Zuelpicherstrasse 77

Dielektrische-Spektroskopie im Mikrowellenbereich erfordert im Allgemeinen erhöhten Aufwand bezüglich Kalibration der residualen Reflexionsbeiträge von Leitungen, Steckverbindungen und Probenhalter. Ein etabliertes Verfahren ist die Messung in Reflexionsgeometrie (”Corbino” [1]) . In unserer Arbeitsgruppe wurde ein Microstrip-Probenhalter zur breitbandigen Spektroskopie in Transmissionsgeometrie entwickelt. In hochpermeablen Proben können Resonanzen im GHz Bereich auftauchen, welche von der Probengeometrie und der Permitivität abhängen [1]. Ein Ansatz zur Bestimmung der Permitivität ist ein Vergleich von gemessenen und simulierten Resonanzfrequenzen. Mittels der Software CST MICROWAVE STUDIO wurde eine Parameter abhängige Eichkurve zur Umrechnung der Resonanzfrequenz in Probenpermeabilität erstellt. Das Verfahren wurde mittels temperaturabhängigen Messungen (300K>T>2K) am Probenmaterial SrTiO₃ im Frequenzbereich 1-20GHz bzw. für є im Bereich 300-15000 getestet.

[1] M.Felger et al. Rev. Sci. Instrum. 84, 114703 (2013)

Diese Arbeit wurde durch die Institutionelle Strategie der Universität zu Köln im Rahmen der Deutschen Exzellenzinitiative gefördert.