Münster 2017 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 94: Pixeldetektoren 4

T 94.3: Vortrag

Mittwoch, 29. März 2017, 17:15–17:30, VSH 116

Charakterisierung finaler Demonstrationsmodule für den Belle II-Pixelvertexdetektor — Jochen Dingfelder, Leonard Germic, Hans Krüger, •Barbara Leibrock, Florian Lütticke, Carlos Marinas, Botho Paschen und Norbert Wermes für die Belle II Kollaboration — Universität Bonn, Physikalisches Institut

Im Jahr 2017 wird die Aufrüstung des KEKB-Beschleunigers in Japan fertiggestellt werden. SuperKEKB wird asymmetrische e+e-Kollisionen bei etwa 40-mal höherer Luminosität liefern. Um die höhere Ereignisrate ausnutzen zu können, wird derzeit ein Upgrade des Belle-Detektors zu Belle II durchgeführt. Als wichtiger Teil des Detektor-Upgrades wird ein neuer zweilagiger, auf DEPFET-Technologie basierender Pixeldetektor als innerster Subdetektor hinzugefügt. Die DEPFET-Pixelmatrix besteht aus p-FETs mit einem zusätzlichen internen Gate und vollständig verarmtem Siliziumbulk. Die im Sensor generierten Elektronen driften ins interne Gate und modulieren den Transistorstrom. Die Transistorströme der Pixel werden mit Hilfe des Drain Current Digitizer (DCD) Chips ausgelesen und in digitale Signale umgewandelt. Diese werden im Data Handling Processor (DHP) Chip weiterverarbeitet, in dem eine erste Datenreduktion vorgenommen wird. Um die zuverlässige Zusammenarbeit der unterschiedlichen Komponenten zu gewährleisten, werden sie zunächst mit Demonstrationsmodulen getestet, die ein funktional vollständiges Matrix- und Komponentensystem enthalten. In diesem Vortrag werden Messungen zur systematischen Charakterisierung und Optimierung der aktuellen Version der Demonstrationsmodule vorgestellt.