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KFM: Fachverband Kristalline Festkörper und deren Mikrostruktur
KFM 10: Spectroscopy and Microscopy I with X-rays and Ions
KFM 10.6: Vortrag
Dienstag, 13. März 2018, 11:20–11:40, EMH 225
Multiskalige Analyse von Energiematerialien mittels Synchrotron und Focused Ion Beam — •Markus Osenberg1, André Hilger2, Henning Markötter2, Tobias Arlt1, Thomas Turek3, Volker Schmidt4, Joachim Binder5, Ingo Manke2 und John Banhart1,2 — 1Technische Universität Berlin — 2Helmholtz-Zentrum Berlin — 3Technische Universität Clausthal — 4Universität Ulm — 5Karlsruhe Institute of Technology
Forschung an Energiematerialien rückt immer mehr in den Fokus und gerade das Wissen über die zu Grunde liegenden, inneren Strukturen dieser Materialien, ist von entscheidender Bedeutung für die Weiterentwicklung. Energiematerialien wie zum Beispiel Batterie-, Elektrolyseelektroden oder mikroporöse Diffusionslagen aus der Brennstoffzellenindustrie wurden sowohl auf der Mikrometer als auch auf der Nanometerskala tomografiert und analysiert. Dazu wurden zum einen, hochauflösende Synchrotronmessungen am BESSY II und Focused Ion Beam (FIB) Messungen am Helmholtz-Zentrum Berlin durchgeführt. Außerdem wurden auf der Nanometerskala 2D Untersuchungen gemacht, um die Messmethoden besser miteinander verknüpfen zu können. Besonders die FIB-Messungen standen hier im Fokus bezüglich der Probenpräparation und der artefaktfreien Rekonstruktion. Auf Grundlager dieser multiskaligen Messungen konnten Zusammenhänge zwischen Herstellungsparametern und Morphologie der Materialien gezeigt werden. Darüber hinaus führten die Analysen dieser Messungen zu einem tieferen Verständnis des Rekonstruktionsprozesses von FIB-Daten und somit zu präziseren Repräsentationen der vermessenen Proben.