Würzburg 2018 – scientific programme
Parts | Days | Selection | Search | Updates | Downloads | Help
T: Fachverband Teilchenphysik
T 25: Silizium-Streifen-Detektoren II / Pixel-Detektoren
T 25.4: Talk
Tuesday, March 20, 2018, 17:15–17:30, Philo-HS2
Rekonstruktion von Spuren und deren Qualitätsberwertung für den Siliziumstreifendetektor am Belle II-Experiment — Florian Bernlochner1, Thomas Hauth1, Martin Heck1, Felix Metzner1, Eugenio Paoloni2 und •Sebastian Racs1 — 1ETP, KIT, Karlsruhe — 2INFN, Pisa
Das bald in Betrieb gehende Belle II-Experiment in Tsukuba, Japan weist einen modernen Siliziumstreifendetektor auf. Dieser erlaubt eine Spurrekonstruktion, die eigenständig und in Kombination mit der Driftkammer und dem Pixeldetektor durchgeführt werden kann. Insbesondere wird auch die Vermessung niederenergetischer Teilchen möglich, die die Driftkammer nicht erreichen und durch Vielfachstreuung im Material beeinflusst werden. Die besondere Schwierigkeit bei der Spurfindung besteht darin, eine hohe Spurfindungseffizienz bei im Vergleich zum Vorgängerexperiment höheren Ereignis- und Untergrundraten zu garantieren. Vielfachstreuung und die komplexen Geometrie des vierlagigen Siliziumstreifendetektors ohne Symmetrien erschweren dies weiter.
In diesem Vortrag wird der Spurfindungsalgorithmus des Siliziumstreifendetektors kurz vorgestellt. Im Speziellen wird die Diskriminierung der rekonstruierten Spuren bezüglich Signalteilchenspuren und falsch rekonstruierter Spuren mittels Qualitätsberwertung besprochen.