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T: Fachverband Teilchenphysik

T 66: Halbleiterdetektoren / Strahlenhärte II

T 66.7: Vortrag

Mittwoch, 21. März 2018, 18:00–18:15, Z6 - SR 2.010

Testbeam-Messungen mit Diamantsensoren und FE-I4 Auslesechip — •Helge C. Beck, Arnulf Quadt und Jens Weingarten — II. Physikalisches Institut, Georg-August-Universität Göttingen

Spurdetektoren an zukünftigen Hochenergieexperimenten werden eine hohe Strahlenbeständigkeit benötigen. Diamant ist unter diesen Bedingungen ein guter Kandidat als Sensormaterial. Das im Vergleich zu Silizium kleinere Signal und der Ladungseinfang könnte mit einer dreidimensionalen Anordnung von Elektroden im Material aufgefangen werden. Leitende Graphitsäulen können im Diamant mit Femtosekunden-Laserpulsen erzeugt werden. Mit einer Metallisierung und Bump-Bonding zu einem Auslesechip kann ein Pixeldetektor produziert werden.

In Zusammenarbeit mit Instituten der ATLAS Kollaboration wird ein Prototyp eines Diamantpixeldetektors entwickelt. Als Auslesechip wird der ATLAS FE-I4 verwendet. Ergebnisse aus Testbeam-Messungen am DESY und Labormessungen werden vorgestellt.