Würzburg 2018 – wissenschaftliches Programm
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 81: Pixel-Detektoren III
T 81.4: Vortrag
Donnerstag, 22. März 2018, 17:15–17:30, Z6 - HS 0.002
Teststrahlstudien an großen DEPFET Pixelsensoren für den Belle II Vertexdetektor — Jochen Dingfelder1, •Florian Lütticke1, Carlos Marinas1, Botho Paschen1, Benjamin Schwenker2 und Norbert Wermes1 — 1Universität Bonn, Physikalisches Institut, Nussallee 12 — 2Universität Göttingen, Fakultät für Physik, Friedrich-Hund-Platz 1
Der Super-KEKB Beschleuniger am KEK Forschungszentrum in Tsukuba, Japan wurde bis zum Jahr 2017 aufgerüstet, um zukünftig eine instantane Luminosität von 8× 1035 cm−2s−1 zu liefern, 40 mal mehr als der Vorgänger KEKB. Um die dadurch erzeugte höhere Datenrate ausnutzen zu können, wird der Belle Detektor zu Belle II aufgerüstet. Dabei werden die innersten beiden Lagen des neuen Vertexdetektors aus DEPFET Pixelsensoren bestehen, die näher an den Interaktionspunkt verschoben, um eine höhere Vertexauflösung zu erreichen. Ein DEPFET Pixel besteht aus einem MOSFET, dessen Source-Drain-Strom durch gesammelte Ladung moduliert wird und dadurch als erste Verstärkungsstufe dient. Dieser Strom wird im Drain-Current-Digitizer (DCDB) in digitale Werte gewandelt, die kontinuierlich ausgelesen werden und in dem Data-Handling-Processor (DHP) verarbeitet und über eine Hochgeschwindigkeitsverbindung an die Back-End-Elektronik gesendet werden.
In diesem Vortrag werden Effizienz- und Auflösungsstudien an großen Prototyp Modulen vorgestellt, die in einer Teststrahlkampagne gemessen wurden. Diese Resultate werden genutzt um die erwartete Performance Parameter von finalen Belle II Modulen abzuschätzen.