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T: Fachverband Teilchenphysik

T 81: Pixel-Detektoren III

T 81.9: Vortrag

Donnerstag, 22. März 2018, 18:30–18:45, Z6 - HS 0.002

Charakterisierung von monolitischen Pixelsensoren mittels X-Ray Fluoreszenz — •Sascha Dungs^1,2, Kevin Kröninger¹, Susanne Kühn², Heinz Pernegger², Christian Riegel^2,3 und Enrico Junior Schioppa² — ¹TU Dortmund, Lehrstuhl für Experimentelle Physik IV — ²CERN — ³Bergische Universität Wuppertal

Im Rahmen des Phase-2 Upgrades des ATLAS Detektors wird der bisherige Spurdetektor durch einen Siliziumspurdetektor, den sogenannten Inner Tracker (ITk) ersetzt. Eine Möglichkeit die Eigenschaften der dafür neu entwickelten Pixelsensoren zu untersuchen sind Fluoreszenzmessungen. Dabei wird eine X-Ray Quelle auf ein Targetmaterial gerichtet, was zu einer Emission von monochromatischer Strahlung führt. Durch die Verwendung von verschiedenen Targetmaterialien kann ein breites Energiespektrum abgedeckt werden. In diesem Votrag wird zunächst das am CERN installierte X-ray Floureszenzsetup vorgestellt. Desweiteren wird die Inbetriebnahme für Messungen mit bestrahlten Sensoren präsentiert. Anschließend werden Ergbenisse von Messungen mit undbestrahlten und bestrahlten depleted monolithic active pixel sensor (DMAPS) aus Silizium gezeigt.