Aachen 2019 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 2: Halbleiterdetektoren I

T 2.6: Vortrag

Montag, 25. März 2019, 17:15–17:30, H02

Messungen bestrahlter Silizium Detektoren für das NitroStrip Projekt — •Jan Cedric Hönig, Leena Diehl, Marc Hauser, Franziska Moos, Riccardo Mori, Ulrich Parzefall und Liv Wiik-Fuchs — Albert-Ludwigs-Universität Freiburg

Die Leistungsfähigkeit von Siliziumdetektoren in der Teilchenphysik ist limitiert durch ihre Fähigkeit radioaktiver Strahlung zu widerstehen. Strahlenschäden bewirken einen erhöhten Leckstrom, eine verschlechterte Ladungssammlung und verändern die Feldkonfiguration im Sensor. Daher ist Forschung zur Verbesserung der Strahlenhärte von zentraler Bedeutung in der Entwicklung neuartiger Siliziumdetektoren. Ein Ansatz die Strahlenhärte von Silizium zu verbessern ist das gezielte einbringen von Fremdatomen. Im Rahmen des NitroStrip Projekts wird die Strahlenhärte von Streifensensoren, die mit Stickstoff angereichert wurden, untersucht. Es stehen Vergleichsgruppen von Sensoren zur Verfügung die mit unterschiedlichen Verfahren beziehungsweise unter Anreicherung mit Sauerstoff hergestellt wurden. In diesem Vortrag werden neben Ergebnisse aus Messungen mit dem EdgeTCT System, vergleichende Messungen von bestrahlen Sensoren aus dem NitroStrip Projekt vorgestellt.