Bonn 2020 – wissenschaftliches Programm
Die DPG-Frühjahrstagung in Bonn musste abgesagt werden! Lesen Sie mehr ...
Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Aktualisierungen | Downloads | Hilfe
T: Fachverband Teilchenphysik
T 72: Semiconductor detectors
T 72.7: Vortrag
Donnerstag, 2. April 2020, 18:00–18:15, H-HS IX
Tote Zonen in BEGe Detektoren — •Martin Schuster für die GeDet Kollaboration — Max-Planck-Institut für Physik, München
Germaniumdetektoren kommen in einer Vielzahl von Experimenten weltweit zum Einsatz. Beispielsweise werden Broad Energy Germanium (BEGe) Detektoren bei der Suche nach neutrinolosen Doppelbetazerfällen genutzt. Ein genaues Verständnis der Detektoren ist dabei von großer Bedeutung. In der GeDet (Germanium Detektor Entwicklung) Gruppe am MPI für Physik werden Germaniumdetektoren genau untersucht. Tote Zonen im Detektor reduzieren das effektiv nutzbare Volumen und können die gemessenen Energien verfälschen da erzeugte Ladungsträger gar nicht oder nur teilweise von den Elektroden eingesammelt werden. Die Dicke und Ausbreitung von toten Zonen und deren Temperaturabhängigkeit, insbesondere nahe passivierter Oberflächen, wurden untersucht und die Ergebnisse werden vorgestellt. Dazu wurde ein vierfach segmentierter n-Typ BEGe Detektor in mehreren Scans mit einer kollimierten 133Barium-Quelle bestrahlt. Die Temperatur konnte mittels eines elektrisch gekühlten Kryostaten kontrolliert und konstant gehalten werden. Die Daten werden zudem mit Simulationen verglichen.