Dortmund 2021 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 35: Semiconductor Detectors - Radiation Hardness, New Materials and Concepts

T 35.6: Vortrag

Dienstag, 16. März 2021, 17:15–17:30, Tj

Iterative Bestrahlungsstudien von Siliziumstreifensensoren — •Umut Elicabuk¹, Tobias Barvich¹, Alexander Dierlamm¹, Ulrich Goerlach², Ulrich Husemann¹, Stefan Maier¹, Thomas Müller¹, Marius Neufeld¹, Andreas Nürnberg¹, Hans Jürgen Simonis¹, Julian Stanulla¹ und Pia Steck¹ — ¹Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT) — ²Institut Pluridisciplinaire Hubert CURIEN (IPHC), Strasbourg

Im Rahmen des Phase-2-Upgrades des zukünftigen CMS-Spurdetektors ist geplant, Siliziumstreifensensoren zur Rekonstruktion der Spuren geladener Teilchen zu verwenden. Aufgrund der hohen Strahlenbelastung ist ein Detektormaterial notwendig, das eine hohe Strahlenhärte aufweist.

Während des Betriebs werden fortlaufend Strahlenschäden im Detektormaterial akkumuliert. Bisherige Studien konnten dieses Bestrahlungsszenario nur in sehr groben Schritten abbilden.

Das ETP untersucht in Zusammenarbeit mit dem IPHC die Sensorcharakteristiken von Siliziumstreifensensoren im Rahmen einer fein aufgelösten Bestrahlungsstudie. Zu diesem Zweck wird eine neuartige Messstation entworfen, die sowohl eine Bestrahlung des Sensors mit Protonen, als auch die Messung verschiedener Sensorparameter direkt in der Strahllinie ermöglichen soll.

Der Vortrag gibt einen Einblick in den verwendeten Messaufbau, untersuchte Sensorcharakteristiken und das geplante Vorgehen.