Dortmund 2021 – scientific programme
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 35: Semiconductor Detectors - Radiation Hardness, New Materials and Concepts
T 35.6: Talk
Tuesday, March 16, 2021, 17:15–17:30, Tj
Iterative Bestrahlungsstudien von Siliziumstreifensensoren — •Umut Elicabuk1, Tobias Barvich1, Alexander Dierlamm1, Ulrich Goerlach2, Ulrich Husemann1, Stefan Maier1, Thomas Müller1, Marius Neufeld1, Andreas Nürnberg1, Hans Jürgen Simonis1, Julian Stanulla1 und Pia Steck1 — 1Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT) — 2Institut Pluridisciplinaire Hubert CURIEN (IPHC), Strasbourg
Im Rahmen des Phase-2-Upgrades des zukünftigen CMS-Spurdetektors ist geplant, Siliziumstreifensensoren zur Rekonstruktion der Spuren geladener Teilchen zu verwenden. Aufgrund der hohen Strahlenbelastung ist ein Detektormaterial notwendig, das eine hohe Strahlenhärte aufweist.
Während des Betriebs werden fortlaufend Strahlenschäden im Detektormaterial akkumuliert. Bisherige Studien konnten dieses Bestrahlungsszenario nur in sehr groben Schritten abbilden.
Das ETP untersucht in Zusammenarbeit mit dem IPHC die Sensorcharakteristiken von Siliziumstreifensensoren im Rahmen einer fein aufgelösten Bestrahlungsstudie. Zu diesem Zweck wird eine neuartige Messstation entworfen, die sowohl eine Bestrahlung des Sensors mit Protonen, als auch die Messung verschiedener Sensorparameter direkt in der Strahllinie ermöglichen soll.
Der Vortrag gibt einen Einblick in den verwendeten Messaufbau, untersuchte Sensorcharakteristiken und das geplante Vorgehen.