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16:00 |
T 35.1 |
Untersuchung der durch aufeinanderfolgende Laserpulse gemessenen Signale in bestrahlten Siliziumsensoren — •Leena Diehl, Riccardo Mori, Marc Hauser, Dennis Sperrlich, Ulrich Parzefall und Liv Wiik-Fuchs
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16:15 |
T 35.2 |
Einfluss von grossen passivierten Oberflächen auf BEGe Detektoren — •Martin Schuster für die GeDet Kollaboration
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16:30 |
T 35.3 |
Charge collection depth profile of pad diodes — •Mohammadtaghi Hajheidari, Erika Garutti, Joern Schwandt, and Aliakbar Ebrahimi
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16:45 |
T 35.4 |
TPA-TCT: Two Photon Absorption - Transient Current Technique — •Moritz Wiehe, Marcos Fernandez Garcia, Michael Moll, Raul Montero, F.R. Palomo, and Ivan Vila
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17:00 |
T 35.5 |
Bestrahlungsstudien im Zuge der CMS Phase-2 Outer Tracker Sensorproduktion — •Jan-Ole Müller-Gosewisch, Tobias Barvich, Alexander Dierlamm, Ronja Fischer, Ulrich Husemann, Stefan Maier, Thomas Müller, Marius Neufeld, Andreas Nürnberg, Hans Jürgen Simonis, Julian Stanulla, Pia Steck und Thomas Vetter
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17:15 |
T 35.6 |
Iterative Bestrahlungsstudien von Siliziumstreifensensoren — •Umut Elicabuk, Tobias Barvich, Alexander Dierlamm, Ulrich Goerlach, Ulrich Husemann, Stefan Maier, Thomas Müller, Marius Neufeld, Andreas Nürnberg, Hans Jürgen Simonis, Julian Stanulla und Pia Steck
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17:30 |
T 35.7 |
Boron removal effect in silicon sensors — •Chuan Liao, Erika Garutti, Joern Schwandt, Eckhart Fretwurst, and Annika Vauth
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17:45 |
T 35.8 |
Effects of gamma radiation on DEPFET pixel sensors for the Belle II experiment — Jochen Dingfelder, Ariane Frey, •Georgios Giakoustidis, Botho Paschen, Harrison Schreeck, Benjamin Schwenker, and Marike Schwickardi for the Belle II collaboration
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18:00 |
T 35.9 |
Aufbau eines Messstandes zur Messung schneller Siliziumsensoren — •Christina Schwemmbauer, Leena Diehl, Marc Hauser, Gregor Kramberger, Ulrich Parzefall, Dennis Sperlich und Liv Wiik-Fuchs
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18:15 |
T 35.10 |
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