DS 11: Charakterisierungsverfahren II
Montag, 17. März 1997, 16:30–17:15, H 55
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16:30 |
DS 11.1 |
X-ray standing waves in epitaxial H-Tc thin films — •A. Kazimirov, J. Zegenhagen, T. Haage, L. Ortega, A. Stierle, and F. Comin
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16:45 |
DS 11.2 |
Untersuchung von Bi-δ-Schichten auf Si(001) mit stehenden Röntgenwellenfeldern und Röntgenbeugung — •O. Mielmann, J. Falta, C. Sánchez-Hanke, Th. Schmidt, M. Kammler, F. Meyer zu Heringdorf, M. Horn-von Hoegen, M Copel und G. Materlik
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17:00 |
DS 11.3 |
Röntgenbeugung an vergrabenen Ge-Mikrofacetten auf Si(001) — •J. Falta, D. Bahr, G. Materlik, M. Kammler und M. Horn-von Hoegen
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