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Münster 1997 – scientific programme

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DS: Dünne Schichten

DS 5: Tiefenaufgelöste Mößbauer–Spektroskopie

Monday, March 17, 1997, 11:45–13:00, H 55

11:45 DS 5.1 Tiefenabhängige Mößbauer-Spektroskopie (DCEMS): eine zer- störungsfreie Methode zur Charakterisierung dünner Schichten — •B. Stahl, R. Gellert, G. Klingelhöfer, M. Müller, R. Nagel, G. Walter, and E. Kankeleit
12:00 DS 5.2 Das  Elektronentransportproblem bei der tiefenabhängigen Mößbauerspektroskopie (DCEMS) — •R. Gellert, B. Stahl, O. Geiss, G. Klingelhöfer und E. Kankeleit
12:15 DS 5.3 Phasenbildung in implantierten Schichten - Charakterisierung mit tiefenselektiver Mössbauer Spektroskopie — •G. Walter, R. Nagel, D.M. Rück, B. Stahl, R. Gellert, M. Müller, G. Klingelhöfer und E. Kankeleit
12:30 DS 5.4 On-Line Mössbauerspektroskopie zur dynamischen Phasenanalyse implantierter Systeme — •R. Nagel, G. Walter, D.M. Rück, B. Stahl, R. Gellert, M. Müller, G. Klingelhöfer und E. Kankeleit
12:45 DS 5.5 DCEMS-Tiefenanalyse der Phasenbildung in Fe-ionenimplantiertem Si — •S. Kruijer, M. Dobler, H. Reuther und W. Keune
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