DS 5: Tiefenaufgelöste Mößbauer–Spektroskopie
Montag, 17. März 1997, 11:45–13:00, H 55
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11:45 |
DS 5.1 |
Tiefenabhängige Mößbauer-Spektroskopie (DCEMS): eine zer- störungsfreie Methode zur Charakterisierung dünner Schichten — •B. Stahl, R. Gellert, G. Klingelhöfer, M. Müller, R. Nagel, G. Walter, and E. Kankeleit
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12:00 |
DS 5.2 |
Das Elektronentransportproblem bei der tiefenabhängigen Mößbauerspektroskopie (DCEMS) — •R. Gellert, B. Stahl, O. Geiss, G. Klingelhöfer und E. Kankeleit
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12:15 |
DS 5.3 |
Phasenbildung in implantierten Schichten - Charakterisierung mit tiefenselektiver Mössbauer Spektroskopie — •G. Walter, R. Nagel, D.M. Rück, B. Stahl, R. Gellert, M. Müller, G. Klingelhöfer und E. Kankeleit
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12:30 |
DS 5.4 |
On-Line Mössbauerspektroskopie zur dynamischen Phasenanalyse implantierter Systeme — •R. Nagel, G. Walter, D.M. Rück, B. Stahl, R. Gellert, M. Müller, G. Klingelhöfer und E. Kankeleit
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12:45 |
DS 5.5 |
DCEMS-Tiefenanalyse der Phasenbildung in Fe-ionenimplantiertem Si — •S. Kruijer, M. Dobler, H. Reuther und W. Keune
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