Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 8: Charakterisierungsverfahren I

Montag, 17. März 1997, 15:15–16:15, H 55

	15:15	DS 8.1	Wachstum epitaktischer ferroelektrischer Aurivillius-Phasen auf Metalloxiden durch gepulste Laserabscheidung — •C. Curran, S. Senz, A. Pignolet, M. Alexe, S. Welke und D. Hesse
	15:30	DS 8.2	Bestimmung elektrisch wirksamer Defekte in dünnen SiO2- und SiOxNy- Schichten — •Reinhard Beyer, Hubert Burghardt, Eberhard Thomas, Rene Reich, Thomas Geßner und Dietrich R.T. Zahn
	15:45	DS 8.3	Elektromigration im Frühstadium — •Holger Schührer, Hubert Brückl und Günter Reiss
	16:00	DS 8.4	Herstellung und Charakterisierung von Niedertemperatur-Passivierungsoxiden — •A. Fischer, A. Strass, W. Hansch, F. Kaesen und I. Eisele