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HL: Halbleiterphysik
HL 11: Poster I
HL 11.26: Poster
Montag, 17. März 1997, 15:30–18:30, Z
Bestrahlungsinduzierte Defektstruktur in II-VI Halbleitern — •A.G. Balogh1, W. Puff2, H. Baumann3 und F. Dworschak4 — 1FG Dünne Schichten, FB Materialwissenschaft, Technische Hochschule Darmstadt, Petersenstr. 23, 64287 Darmstadt — 2Institut für Technische Physik, Technische Universität Graz — 3Institut für Kernphysik, J.W.Goethe Universität Frankfurt — 4Institut für Festkörperforschung, Forschungszentrum Jülich
II-VI Halbleiter mit Bandlücken zwischen 3-4 eV sind wichtige Materialien für optoelektronische Anwendungen. Die optische und elektrische Eigenschaften dieser Halbleiter sind von der Defektstruktur wesentlich beeinflußt. Die Untersuchung und Identifizierung dieser Defekte ist deshalb von großer Wichtigkeit bei der Herstellung von optoelektronischen Geräten. ZnO und ZnS Proben wurden mit Protonen und Elektronen bestrahlt. Anschließend wurde die erzeugte Defektstruktur mit der Methode der Positronenzerstrahlung (PAS) untersucht. Die temperaturabhängig durchgeführte Lebensdauer und Doppler Messungen zeigen die materialspezifische Ausheilstufen der verschiedenen Leerstellenagglomeraten.